用角差法檢定大理石平板平面度的方法有幾種
時(shí)間:2016/2/4 15:19:58
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常用的大理石平板平面度檢定方法有兩大類(lèi):直接測量法和間接測量法。
1、大理石平板直接測量法是直接獲得平面各點(diǎn)偏差值或直接評定平面度誤差值。這種測量方法可直接得到線(xiàn)值結果,因此也叫線(xiàn)差法。屬于這類(lèi)測量方法的有刀口直尺或平尺的墊塞法,標準大理石平板的打表法,激光準直儀測量法。
2、大理石平板間接測量法是利用水平儀或自準直儀在被測平面若干個(gè)測量截面上,以節距法進(jìn)行測量,得到各被測點(diǎn)相對于測量基準(水平面或光軸直線(xiàn))的傾斜角度,在取得最后結果時(shí),將角值表示的量值換算為以線(xiàn)值表示的量值。這種方法從儀器器中讀得的數值是角度值,因此也叫角差法。屬于這類(lèi)方法的有水平儀法和自準直儀法。
自準直儀法是將固有的反射鏡的橋板置于被測平板上(圖36),按對角線(xiàn)布點(diǎn)形式移動(dòng)橋板,逐個(gè)節距測出被測面上相鄰兩點(diǎn)連線(xiàn)相對測量基線(xiàn)(面 )的傾斜角,通過(guò)數據處理求出平面度誤差值。自準直儀法常用米字型布點(diǎn),若用網(wǎng)格型布點(diǎn),則需要更多的反射鏡,調整比較麻煩。測量時(shí)將自準直儀放在大理石平板外牢固的支座上,固有反射鏡的橋板按規定截面逐個(gè)節距進(jìn)行移動(dòng)如圖37所示,測完一個(gè)界面在調整儀器測量第二個(gè)截面,直到測完規定截面為止。
當被測大理石平板較大時(shí),可以將自準直儀放在大理石平板上進(jìn)行檢定,為了減少自準直儀移動(dòng)次數,可以增加一個(gè)反射鏡,以改變瞄準方向如圖38所示。將自準直儀放在位置1,就可測有標記1的三條截面,將自準直儀移至位置2、3、4,就可以測出標記2、3、4的各個(gè)截面,如果儀器帶有兩個(gè)反射鏡,可以按下圖方式測量,可以減少儀器裝調次數,提高測量效率。此方法適用于大中型大理石平板平面度檢定。
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